Выявление аппаратных уязвимостей цифровых устройств на основе систем сканирования и полунатурного моделирования

Е. Ф. Певцов; Т. А. Деменкова; А. О. Индришенок; В. В. Филимонов

Для цитирования:

Певцов Е.Ф., Деменкова Т.А., Индришенок А.О., Филимонов В.В. Выявление аппаратных уязвимостей цифровых устройств на основе систем сканирования и полунатурного моделирования. Russian Technological Journal. 2024;12(4):23–39. https://doi.org/10.32362/2500-316X-2024-12-4-23-39. EDN: DRCIUV

For citation:

Pevtsov E.F., Demenkova T.A., Indrishenok A.О., Filimonov V.V. Identification of digital device hardware vulnerabilities based on scanning systems and semi-natural modeling. Russian Technological Journal. 2024;12(4):23–39. https://doi.org/10.32362/2500-316X-2024-12-4-23-39. EDN: DRCIUV

Просмотров PDF (Rus): 209
Просмотров PDF (Eng): 34

Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.

ISSN 2782-3210 (Print)
ISSN 2500-316X (Online)

Логин
Пароль
	Запомнить меня

Войти

Russian Technological Journal

Для цитирования:

For citation:

Использование куки-файлов