Для цитирования:

Миннебаев В.М. Тепловые и механические механизмы деградаций в гетероструктурных полевых транзисторах на нитриде галлия. Russian Technological Journal. 2025;13(2):57-73. https://doi.org/10.32362/2500-316X-2025-13-2-57-73. EDN: TTUFNR

For citation:

Minnebaev V.M. Thermal and mechanical degradation mechanisms in heterostructural field-effect transistors based on gallium nitride. Russian Technological Journal. 2025;13(2):57-73. https://doi.org/10.32362/2500-316X-2025-13-2-57-73. EDN: TTUFNR