МОДЕЛЬ ЛОКАЛЬНОГО ИОННО-ЛУЧЕВОГО ОСАЖДЕНИЯ ПЛАТИНЫ СФОКУСИРОВАННЫМ ПУЧКОМ ИОНОВ
https://doi.org/10.32362/2500-316X-2017-5-6-34-42
Аннотация
Об авторах
Д. Г. ЛапинРоссия
И. С. Овчинников
Россия
Список литературы
1. Bassim N., Scott K., Lucille A. Recent advances in focused ion beam technology and applications // Mater. Res. Soc. 2014. V. 39. P. 317-325.
2. Utke I., Hoffmann P., Melngailis J. Gas-assisted focused electron beam and ion beam processing and fabrication // J. Vacuum Sci. & Technol. 2008. V. 26. P. 1197-1276.
3. Lundquist T., Thompson M. Circuit Edit at First Silicon // Microelectronics Failure Analysis. Desk Reference Sixth Edition. 2011. P. 594-606.
4. Боргардт Н.И., Волков Р.Л., Румянцев А.В., Чаплыгин Ю.А. Моделирование распыления материалов фокусированным ионным пучком // Письма в ЖТФ. 2015. № 12. С. 97-104.
5. Dai J., Chang H., Maeda E., Warisawa S., Kometani R. Approaching the resolution limit of W-C nano-gaps using focused ion beam chemical vapour deposition // Appl. Surface Sci. 2017. V. 427. P. 422-427.
6. Rüdenauer F., Mozdzen G., Costin W., Semerad E. Quantitative model of FIB deposition // Adv. Eng. Mater. 2007. V. 9. P. 708-711.
7. Ertl O., Filipovic L., Selberherr S. Three-dimensional simulation of focused ion beam processing using the level set method // Proceed. of the Int. Conf. on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, 2010 (SISPAD 2010), Bologna, Italy, 6-8 September, 2010. IEEE, 2010. P. 49-52.
Рецензия
Для цитирования:
Лапин Д.Г., Овчинников И.С. МОДЕЛЬ ЛОКАЛЬНОГО ИОННО-ЛУЧЕВОГО ОСАЖДЕНИЯ ПЛАТИНЫ СФОКУСИРОВАННЫМ ПУЧКОМ ИОНОВ. Russian Technological Journal. 2017;5(6):34-42. https://doi.org/10.32362/2500-316X-2017-5-6-34-42
For citation:
Lapin D.G., Ovchinnikov I.S. МОДЕЛЬ ЛОКАЛЬНОГО ИОННО-ЛУЧЕВОГО ОСАЖДЕНИЯ ПЛАТИНЫ СФОКУСИРОВАННЫМ ПУЧКОМ ИОНОВ. Russian Technological Journal. 2017;5(6):34-42. (In Russ.) https://doi.org/10.32362/2500-316X-2017-5-6-34-42