Определение источников знаний о технологиях микро- и наноэлектроники

Цели. В течение последних десятилетий разработано множество моделей управления знаниями. Однако использование данных моделей для создания информационной системы в интересах исследовательских предприятий микроэлектроники не представляется возможным, поскольку они не учитывают динамику и характер развития технологий, а также специфику деятельности организаций в разных видах работ по генерации знаний. Цель работы – выявить направления актуальности разработки системы управления знаниями о технологиях микро- и наноэлектроники, определить и систематизировать источники знаний в данной научно-технической области.
Методы. Использованы метод анализа взаимосвязи бизнес-показателей компаний с последующей визуализацией в виде циклической диаграммы причин, метод анализа заинтересованных сторон.
Результаты. Сформулированы три направления актуальности разработки системы управления знаниями в наукоемкой области технологий микро- и наноэлектроники – с точки зрения социальных, коммерческих и научно-технических эффектов в соответствующих организациях. К ключевым источникам знаний о технологиях микро- и наноэлектроники отнесены университеты, институты РАН, отраслевые институты, заказчики, производства и потребители. Обоснована важность рассмотрения цифровых двойников электронных компонент как перспективного источника знаний в данной области.
Выводы. Анализ кривой жизненного цикла технологии на примере области микро- и наноэлектроники позволяет соотнести отдельные этапы данного жизненного цикла с конкретными видами работ, в ходе выполнения которых происходит выработка новых знаний. В качестве видов работ выделены фундаментальные и прикладные исследования, изучение требований, реализация на производстве и анализ эксплуатации. Для отрасли микроэлектроники на кривой жизненного цикла технологий они соответствуют участкам появления, пика ожиданий, избавления от иллюзий, преодоления недостатков и плато продуктивности.

1. Надточий Ю.Б., Будович Л.С. Интеллектуальный капитал организации: сущность, структура, подходы к оценке. Российский технологический журнал. 2018;6(2):82–95. https://doi.org/10.32362/2500-316X-2018-6-2-82-95

2. Mohajan H.K. The impact of knowledge management models for the development of organizations. J. Environ. Treat. Tech. 2017;5(1):12–33.

3. Маринко Г.И. Современные модели и школы в управлении знаниями. Вестник Московского университета. Серия 21: Управление (государство и общество). 2004;2:45–65.

4. Polanyi M. Personal knowledge: towards a post-critical philosophy. Chicago: University of Chicago Press; 1958. 464 p.

5. Lytras M.D., Pouloudi A. Project management as a knowledge management primer: the learning infrastructure in knowledge-intensive organizations: projects as knowledge transformations and beyond. The Learning Organization. 2003;10(4):237–250. https://doi.org/10.1108/09696470310476007

6. Горнев Е.С. Отечественная микроэлектроника: ожидания и перспективы. Наноиндустрия. 2018;11(6):392–398. https://doi.org/10.22184/1993-8578.2018.11.6.392.398

7. Горнев Е.С., Зайцев Н.А., Равилов М.Ф., Романов И.М., Ранчин С.О., Былинкин Д.А. Анализ разработанных зарубежных изделий микросистемной техники. Микросистемная техника. 2002;7:6–11.

8. Красников Г.Я., Горнев Е.С., Матюшкин И.В. Общая теория технологий и микроэлектроника. М.: ТЕХНОСФЕРА; 2020. 434 c.

9. Теплов Г.С., Горнев Е.С. Модель на языке Verilog-A многоуровневого биполярного мемристора с учетом девиаций параметров переключения. Микроэлектроника. 2019;48(3):163–175. https://doi.org/10.1134/S0544126919030104

10. Красников Г.Я., Зайцев Н.А., Красников А.Г. Современное состояние разработок в области энергонезависимой памяти. Нано- и микросистемная техника. 2015;4(177):60–64.

11. Sharapov A.A., Shamin E.S., Skuratov I.D., Gornev E.S. Grounds and problem statement for software complex for photolithography optimization for minimization of losses in optical structures of photonic integrated circuits. IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. 2020;939:012070. https://doi.org/10.1088/1757-899X/939/1/012070

12. Бокарев В.П., Красников Г.Я. Оценка изменения физико-химических свойств наноразмерных кристаллических материалов. Доклады Академии наук. 2008;420(2):186–189.

13. Просий А.Д., Ранчин С.О., Шелепин Н.А. Обеспечение качества в современном полупроводниковом производстве. Электронная техника. Серия 3: Микроэлектроника. 2015;4(160):39–43.

14. Соловьев А.В., Селецкий А.В. Недостатки отечественных расчетно-экспериментальных методик прогнозирования надежности интегральных схем. Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2020;1:76–81. https://doi.org/10.31114/2078-7707-2020-1-76-81

15. Гаврилов С.В., Железников Д.А., Заплетина М.А., Хватов В.М., Чочаев Р.Ж., Эннс В.И. Маршрут топологического синтеза для реконфигурируемых систем на кристалле специального назначения. Микроэлектроника. 2019;48(3):211–223. https://doi.org/10.1134/S0544126919030050

16. Красников Г.Я., Мещанов В.Д., Шелепин Н.А. Семейство микросхем ПЗУ информационной емкостью 4–64 Мбит для космических применений. Электронная техника. Серия 3: Микроэлектроника. 2015;2(158):4–10.

17. Колдаев И.М. Фундаментальный параметрический подход к синтезу электронных систем. Наноиндустрия. 2020;S96(1):265–269. https://doi.org/10.22184/1993-8578.2020.13.3s.265.269

18. Тельминов О.А., Горнев Е.С., Мошкарова Л.А., Янович С.И., Морозов Е.Н. Оценка возможности применения нейросетевого байесовского подхода к выявлению корреляции между параметрами тестовых элементов для межоперационного контроля технологического процесса и характеристиками формируемой транзисторной структуры. Наноиндустрия. 2020;13(S4,99):559–560. https://doi.org/10.22184/1993-8578.2020.13.4s.559.560

19. Горнев Е.С. Методы обеспечения надежности современных СБИС. Математическое моделирование в материаловедении электронных компонентов. В сб.: Математическое моделирование в материаловедении электронных компонентов (ММMЭК–2020). Сборник материалов II международной конференции. 19–20 октября 2020 г. М.: МАКС Пресс; 2020. С. 13–21.

20. Тельминов О.А., Горнев Е.С., Черняев Н.В., Янович С.И., Мошкарова Л.А., Шахманова М.В. Исследование возможности построения цифрового двойника интегральных схем для анализа и прогнозирования их надежности. Наноиндустрия. 2021;14(S7,107):694–695. https://doi.org/10.22184/1993-8578.2021.14.7s.694.695

21. Ильин С.А., Ласточкин О.В., Надин А.С., Новиков А.А., Шипицин Д.С. Конструкторско-технологическая платформа проектирования радиационно-стойких СБИСБ на базе отечественной технологии КМОП 90 нм на основе RHBD методологии. Наноиндустрия. 2019;S(89):254–257.

22. Шарапов А.А., Баранов Г.В. Сравнительный анализ методик оценки количественных характеристик шероховатости наноразмерных структур. Труды МФТИ. 2018;10(2,38):72–79.