Термочувствительные тонкопленочные элементы на основе полуметаллов для приемников электромагнитного излучения
https://doi.org/10.32362/2500-316X-2019-7-6-105-121
Аннотация
Об авторах
М. А. КикРоссия
Кик Михаил Андреевич, старший научный сотрудник, кафедра квантовой электроники, физический факультет
119991, Россия, Москва, Ленинские горы, МГУ
И. А. Голоколенов
Россия
Голоколенов Илья Алексеевич, старший научный сотрудник
117334, Россия, Москва, ул. Косыгина, д. 2
101000, Россия, Москва, Мясницкая ул., д. 20
А. С. Сигов
Россия
Сигов Александр Сергеевич, академик РАН, доктор физ.-мат. наук, президент, Scopus Author ID 35557510600, ResearcherID L-4103-2017
119454, Россия, Москва, пр-т Вернадского, д. 78
А. А. Шиляев
Россия
Шиляев Анатолий Алексеевич, кандидат физ.-мат. наук, ведущий научный сотрудник; старший научный сотрудник
119991, Россия, Москва, ул. Косыгина, д. 4
119454, Россия, Москва, пр-т Вернадского, д. 78
В. В. Завьялов
Россия
Завьялов Виталий Вадимович, кандидат физ.-мат. наук, старший научный сотрудник
117334, Россия, Москва, ул. Косыгина, д. 2
101000, Россия, Москва, Мясницкая ул., д. 20
С. С. Вербицкий
Россия
Вербицкий Сергей Сергеевич, кандидат физ.-мат. наук, старший научный сотрудник
119991, Россия, Москва, ул. Косыгина, д. 4
А. Н. Целебровский
Россия
Целебровский Алексей Николаевич, кандидат физ.-мат. наук, старший научный сотрудник
119991, Россия, Москва, ул. Косыгина, д. 4
Список литературы
1. Андрюшин С.Я., Кравченко Н.В., Кулыманов А.В., Либерова Г.В., Таубкин И.И., Тришенков М.А., Филачев А.М., Эскин Ю.М. Состояние разработок микроболометрических матриц в Государственном научном центре «НПО Орион» // Прикладная физика. 2000. № 5. С. 5–17.
2. Тарасов В.В., Якушенков Ю.Г. Инфракрасные системы «смотрящего типа». М.: «ЛОГОС», 2004. 443 c.
3. Lianjun Sun, Benkang Chang, Junju Zhang. Analysis and measurement of thermal-electrical performance of microbolometer detector // Proceedings of the SPIE. 2007. V. 6782. Optoelectronic Materials and Devices II, 678231. https://doi.org/10.1117/12.745347
4. Ufuk Senveli S., Yusuf Tanrikulu M., Tayfun Akin. A thermal conductance optimization approach for uncooled microbolometers // Proceedings SPIE. 2011. V. 8012. Infrared Technology and Applications XXXVII, 80121T. https://doi.org/10.1117/12.890234
5. Dumas M.J., Lail B.A. A parametric analysis of microbolometer pixel designs // Proceedings SPIE. 2011. V. 8155. Infrared Sensors, Devices and Applications, Single Photon Imaging II, 815517. https://doi.org/10.1117/12.894170
6. Sun L., Chang B., Zhang J., Qian Y., Qiu Y. Thermal and electrical performance of α-Si microbolometer focal plane arrays» // Proceedings SPIE. 2007. V. 6423. 64232D. https://doi.org/10.1117/12.779855
7. Gauntt J.Li, Cabarcos O.M., Basantani H.A., Venkatasubramanian C., Bharadwaja S.S.N. Microstructure of vanadium oxide used in microbolometers // Proceedings SPIE. 2011. V. 8012. Infrared Technology and Applications XXXVII, 80123T. https://doi.org/10.1117/12.884161
8. Luukanen A., Miller A.J. and Grossman E.N. Passive hyperspectral terahertz imagery for security screening using a cryogenic microbolometer // Proceedings SPIE. 2005. 5789. P. 127–134. https://doi.org/10.1117/12.608838
9. Прохоров А.М., Шиляев А.А., Валиев К.А. и др. Датчик для регистрации плотности потока энергии электромагнитного излучения. Авторское свидетельство № 1225342, декабрь 1985.
10. Емохонов В.Н., Клягин А.С., Тальрозе В.Л., Шиляев А.А. Приемник электромагнитного излучения: патент 1 825 246 РФ. № 4641108/25; заявл. 26.12.1988; опубл. 10.04.1995.
11. Кик М.А., Шиляев А.А., Сигов А.С., Шампаров Е.Ю., Завьялов В.В., Богомолов Г.Д., Емохонов В.Н., Терехова Е.В., Шиляева А.А., Денискин В.В. Широкополосный измерительный приемник излучения миллиметрового диапазона с независимой калибровкой: патент 2 616 721 РФ. № 2015154123; заявл. 17.12.2015.; опубл. 18.04.2017. Бюл. № 11.
12. Комник Ю.Ф. Физика металлических плёнок. M.: Атомиздат, 1979. 263 c.
13. Кик М.А., Шиляев А.А., Сигов А.С., Емохонов В.Н., Завьялов В.В., Шампаров Е.Ю., Денискин В.В. Приемник для измерения мощности электромагнитного излучения в широком диапазоне длин волн. // Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения. 2015. Т. 15. № 4. С. 164–169.
Дополнительные файлы
|
1. Рис. 1. Спектр пропускания (символ «х») и отражения (символ «+») плёнки Bi толщиной 36 нм на 12 мкм полиимидной подложке. Излучение падает со стороны полиимида | |
Тема | ||
Тип | Исследовательские инструменты | |
Посмотреть
(40KB)
|
Метаданные ▾ |
Рецензия
Для цитирования:
Кик М.А., Голоколенов И.А., Сигов А.С., Шиляев А.А., Завьялов В.В., Вербицкий С.С., Целебровский А.Н. Термочувствительные тонкопленочные элементы на основе полуметаллов для приемников электромагнитного излучения. Russian Technological Journal. 2019;7(6):105-121. https://doi.org/10.32362/2500-316X-2019-7-6-105-121
For citation:
Kik M.A., Golokolenov I.A., Sigov A.S., Shilyaev A.A., Zavyalov V.V., Verbitsky S.S., Tselebrovsky A.N. Thin-film heat-sensitive elements on the basis of semimetals for electromagnetic radiation receivers. Russian Technological Journal. 2019;7(6):105-121. (In Russ.) https://doi.org/10.32362/2500-316X-2019-7-6-105-121