Для цитирования:

Певцов Е.Ф., Деменкова Т.А., Шнякин А.А. Тестопригодное проектирование интегральных схем и проблемы защиты проектов. Russian Technological Journal. 2019;7(4):60-70. https://doi.org/10.32362/2500-316X-2019-7-4-60-70

For citation:

Pevtsov E.P., Demenkova T.A., Shnyakin A.A. Design for Testability of Integrated Circuits and Project Protection Difficulties. Russian Technological Journal. 2019;7(4):60-70. https://doi.org/10.32362/2500-316X-2019-7-4-60-70