Технико-экономический анализ серверов как вычислительных модулей вычислительных систем класса WSC
https://doi.org/10.32362/2500-316X-2025-13-1-49-58
EDN: JQICRJ
Аннотация
Цели. Целью работы является технико-экономический анализ серверов как вычислительных модулей вычислительных систем (ВС) класса WSC (warehouse scale computer).
Методы. Основные результаты работы получены с использованием методов математического анализа и моделирования.
Результаты. Проведен технико-экономический анализ вычислительных модулей или серверов на базе микропроцессоров класса Xeon (Intel, США) и им подобных. Приведен обзор подклассов микропроцессоров с указанием основных областей их использования, а также вариантов организации серверов и их основных составляющих. Надежность – комплексное свойство, которое, в зависимости от назначения объекта и условий его применения, может включать безотказность, долговечность, ремонтопригодность и сохраняемость или определенные сочетания этих свойств. Для обеспечения максимальной надежности сервера используют как резервирующие элементы – массивы дисков и блоков питания, так и резервные серверы, и специальные решения: использование горячей замены и подключения, методы повышения надежности оперативной памяти Error Checking and Correction для коррекции ошибок модулей оперативной памяти, контроль температурных режимов отсеков сервера.
Выводы. Проведенный обзор вариантов организации серверов и их основных составляющих позволяет сделать вывод о достаточно высокой надежности их функционирования. От серверов, объединенных в ВС класса WSC, как от системы, требуется непрерывность функционирования в режиме 24/7 в течение длительного времени. Это требует разработки методик оценки надежности таких высоконадежных систем, включающих резервные элементы, по отношению к отказам аппаратуры и программного обеспечения, а также методик прогнозирования отказов и мер борьбы с их последствиями.
Об авторах
Г. В. ПетушковРоссия
Петушков Григорий Валерьевич, проректор,
119454, Москва, пр-т Вернадского, д. 78.
Конфликт интересов:
Авторы заявляют об отсутствии конфликта интересов.
А. С. Сигов
Россия
www.researchgate.net/profile/A_Sigov
Сигов Александр Сергеевич, академик Российской академии наук, д.ф.-м.н., профессор, президент,
119454, Москва, пр-т Вернадского, д. 78.
Scopus AuthorID: 35557510600,
ResearcherID: L-4103-2017,
Конфликт интересов:
Авторы заявляют об отсутствии конфликта интересов.
Список литературы
1. Хенесси Д.Л., Паттерсон Д.А. Компьютерная архитектура. Количественный подход. 5-е изд. М.: Техносфера; 2016. 936 с.
2. Сугак Е.В. Прикладная теория надежности. Практикум. М.: Лань; 2023. 312 с. ISBN 978-5-507-47014-3
3. Тенгайкин Е.И. Организация сетевого администрирования. Сетевые операционные системы, серверы, службы и протоколы. Практические работы. СПб.: Лань; 2022. 100 с. ISBN 978-5-8114-9783-6
4. Коваленко С.М., Платонова О.В. Анализ задачи эффективной эксплуатации комплексов систем автоматизации и расчеты надежности на основе непрерывных моделей. Известия вузов. Машиностроение. 2014;8(653):75–89. http://doi.org/10.18698/0536-1044-2014-8-75-79
5. Воеводин В.В., Воеводин Вл.В. Параллельные вычисления. СПб.: БХВ-Петербург; 2002. 608 с.
6. Орлов С.А., Цилькер Б.Я. Организация ЭВМ и систем. СПб.: Питер; 2016. 688 с.
7. Половко А.М., Гуров С.В. Основы теории надежности. СПб.: БХВ-Петербург; 2006. 702 с. ISBN 5-94157-541-6
8. Черкесов Г.Н. Надежность аппаратно-программных комплексов. СПб.: Питер; 2005. 479 с. ISBN 5-469-00102-4
9. Сапожников В.В., Сапожников В.В., Ефанов Д.В. Основы теории надежности и технической диагностики. СПб.: Лань; 2019. 588 с. ISBN 978-5-8114-3453-4
10. Podgorny Y.V., Antonovich A.N., Petrushin A.A., Sigov A.S., Vorotilov K.A. Effect of metal electrodes on the steady-state leakage current in PZT thin film capacitors. J. Electroceram. 2022;49:15–21. https://doi.org/10.1007/s10832-022-00288-5
11. Абдуллаев Д.А., Милованов Р.А., Волков Р.Л., Боргардт Н.И., Ланцев А.Н., Воротилов К.А., Сигов А.С. Сегнетоэлектрическая память: современное производство и исследования. Российский технологический журнал. 2020;8(5):44–67. https://doi.org/10.32362/2500-316X-2020-8-5-44-67
12. Конюхова О.В., Кравцова Э.А., Лукьянов П.В. Техническое и программное обеспечение вычислительных машин и систем. М., Вологда: Инфра-Инженерия; 2023. 200 с. ISBN 978-5-9729-1186-8
13. Журавлев А.А. Организация и архитектура ЭВМ. Вычислительные системы. СПб.: Лань; 2022. 144 с. ISBN 978-5-507-48089-0
14. Гельбух С.А. Сети ЭВМ и телекоммуникации. Архитектура и организация. СПб.: Лань; 2019. 208 с. ISBN 978-58114-3474-9
15. Андреев А.М., Можаров Г.П., Сюзев В.В. Многопроцессорные вычислительные системы. Теоретический анализ, математические модели и применение. М.: Издательство МГТУ им. Н.Э. Баумана; 2011. 336 с. ISBN 978-5-70383439-6
Дополнительные файлы
|
1. Зависимость прироста производительности от числа ядер процессора | |
Тема | ||
Тип | Исследовательские инструменты | |
Посмотреть
(36KB)
|
Метаданные ▾ |
- Проведен технико-экономический анализ вычислительных модулей или серверов на базе микропроцессоров класса Xeon (Intel, США) и им подобных.
- Приведен обзор подклассов микропроцессоров с указанием основных областей их использования, а также вариантов организации серверов и их основных составляющих.
- Серверы, объединенные в вычислительные системы класса warehouse scale computer, должны непрерывно функционировать в режиме 24/7 в течение длительного времени.
- Это требует разработки методик оценки надежности таких систем, включающих резервные элементы, по отношению к отказам аппаратуры и программного обеспечения, а также методик прогнозирования отказов и мер борьбы с их последствиями.
Рецензия
Для цитирования:
Петушков Г.В., Сигов А.С. Технико-экономический анализ серверов как вычислительных модулей вычислительных систем класса WSC. Russian Technological Journal. 2025;13(1):49-58. https://doi.org/10.32362/2500-316X-2025-13-1-49-58. EDN: JQICRJ
For citation:
Petushkov G.V., Sigov A.S. Technical and Economic Analysis of Servers as Computing System Modules of the Warehouse Scale Computer Class. Russian Technological Journal. 2025;13(1):49-58. https://doi.org/10.32362/2500-316X-2025-13-1-49-58. EDN: JQICRJ