<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">mireabulletin</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Russian Technological Journal</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Russian Technological Journal</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">2782-3210</issn><issn pub-type="epub">2500-316X</issn><publisher><publisher-name>RTU MIREA</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.32362/2500-316X-2022-10-5-92-99</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">mireabulletin-565</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>МИКРО- И НАНОЭЛЕКТРОНИКА. ФИЗИКА КОНДЕНСИРОВАННОГО СОСТОЯНИЯ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>MICRO- AND NANOELECTRONICS. CONDENSED MATTER PHYSICS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Анализ источников магнетронного распыления для осаждения толстых слоев меди с высокой скоростью для изделий микроэлектроники</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Comparison of magnetron sputtering systems for high-rate deposition of thick copper layers for microelectronic applications</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0003-1707-8587</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Назаренко</surname><given-names>М. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Nazarenko</surname><given-names>M. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Назаренко Мария Владимировна - аспирант, кафедра наноэлектроники Института перспективных технологий и индустриального программирования, МИРЭА - Российский технологический университет; ведущий инженер-технолог, ООО «РМТ».</p><p>119454, Москва, пр-т Вернадского, д. 78; 115230, Москва, Варшавское шоссе, д. 46.</p><p>SPIN-код РИНЦ 2797-9450</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Mariia V. Nazarenko - Postgraduate Student, Department of Nanoelectronics, Institute for Advanced Technologies and Industrial Programming, MIREA - Russian Technological University; Leading Process Engineer, RMT.</p><p>78, Vernadskogo pr., Moscow, 119454; 46, Varshavskoe sh., Moscow, 115230.</p><p>RSCI SPIN-code 2797-9450</p></bio><email xlink:type="simple">m.v.makarova@list.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>МИРЭА - Российский технологический университет; ООО «РМТ»</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>MIREA - Russian Technological University; RMT</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2022</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>20</day><month>10</month><year>2022</year></pub-date><volume>10</volume><issue>5</issue><fpage>92</fpage><lpage>99</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Назаренко М.В., 2022</copyright-statement><copyright-year>2022</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Назаренко М.В.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Nazarenko M.V.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.rtj-mirea.ru/jour/article/view/565">https://www.rtj-mirea.ru/jour/article/view/565</self-uri><abstract><sec><title>Цели</title><p>Цели. При проектировании производственного оборудования для реализации процессов осаждения металлических пленок актуальной задачей является выбор технологических источников, которые должны обеспечивать требуемое качество (структуру, внешний вид), максимальные эффективность процесса и производительность. Однако в реальных производственных условиях сделать этот выбор сложно в связи с недостаточностью сравнительных материалов источников. Лабораторные результаты нередко отличаются от результатов на производстве. Цель работы - сравнить методы магнетронного осаждения в реальных промышленных условиях (планарном протяженном магнетроне, жидкофазном магнетроне и цилиндрическом магнетроне с вращающимся катодом), выявить их преимущества, недостатки и особенности формирования металлических пленок, проанализировать экономическую целесообразность выбора каждого из них и дать практические рекомендации выбора источника при реализации требуемого процесса.</p></sec><sec><title>Методы</title><p>Методы. Для осаждения пленок применены методы ионного распыления в магнетронных системах. Измерение шероховатости проводилось с помощью профилометра MarSurf PS1. Структура пленок изучалась с помощью растрового электронного микроскопа Hitachi SU1510. Толщины пленок измерялись методом рентгено-флуорисцентного анализа с помощью прибора Fisherscope X-RAY XDV-SDD.</p></sec><sec><title>Результаты</title><p>Результаты. Рассмотрены источники магнетронного распыления для скоростного осаждения слоев металлизации в промышленных условиях. Проведено сравнение полученных образцов по критериям: скорость осаждения с сохранением требуемого качества, поверхностные дефекты, размер зерна пленки, шероховатость, равномерность осажденного слоя, эффективность осаждения (отношение металла, осажденного непосредственно на подложку, к количеству выработанного металла во время процесса). Сравнение характеристик показало, что скорость осаждения для жидкофазного магнетрона соизмерима с аналогичным параметром для цилиндрического магнетрона и превосходит примерно в 4 раза скорость для классического планарного магнетрона при сохранении единого внешнего вида образцов. Самой высокой шероховатостью и самым крупным размером зерна обладают образцы, осажденные жидкофазным магнетроном. Самой низкой эффективностью распыления обладает метод жидкофазного магнетронного распыления, который является самым дешевым.</p></sec><sec><title>Выводы</title><p>Выводы. Выбор метода осаждения зависит от решаемой задачи. Оптимальным по стоимости, скорости осаждения и качеству осаждаемых слоев можно считать магнетрон с цилиндрическим вращающимся катодом. Жидкофазное магнетронное распыление рекомендовано использовать для дешевого скоростного осаждения, при котором нет жестких требований к внешнему виду, или в случае эксплуатации малогабаритного оборудования.</p></sec></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><sec><title>Objectives</title><p>Objectives. When designing production equipment for the implementation of metal film deposition processes, the selection of technological sources for providing the required quality (structure, appearance), maximum process efficiency, and productivity, poses a challenging task. Since laboratory results often differ from issues faced in production processes, this choice becomes even more difficult under real production conditions due to a lack of sources for comparison. The purpose of the present work is therefore to compare magnetron deposition methods under real industrial conditions (planar extended magnetron, liquid-phase magnetron and cylindrical magnetron with a rotating cathode), identify their advantages and disadvantages along with features of thus-formed metal films, analyze the economic feasibility of each variant, and give practical recommendations for selecting a source when implementing the described process.</p></sec><sec><title>Methods</title><p>Methods. Films were deposited using magnetron sputtering system. Roughness was measured using a MarSurf PS1 profilometer. The structure of the films was studied using a Hitachi SU1510 scanning electron microscope. Film thicknesses were measured by X-ray fluorescence analysis using a Fisherscope X-RAY XDV-SDD measuring instrument.</p></sec><sec><title>Results</title><p>Results. Sources of magnetron sputtering for the high-rate deposition of metallization layers under industrial conditions are considered. Obtained samples were compared according to the following criteria: deposition rate while maintaining the required quality, surface defects, film grain size, roughness, uniformity of the deposited layer, deposition efficiency (the ratio of the metal deposited directly onto the substrate to the amount of metal produced during the process). A comparison of the characteristics showed that the deposition rate for the liquid-phase magnetron is commensurate with the similar parameter for the cylindrical magnetron, exceeding the rate for the classical planar magnetron by about 4 times while maintaining the uniform appearance of the samples. The samples deposited with a liquid-phase magnetron had the highest roughness and the largest grain size. Although the cheapest method, liquid-phase magnetron sputtering achieved the lowest sputtering efficiency.</p></sec><sec><title>Conclusions</title><p>Conclusions. The choice of the deposition method depends on the problem to be solved. The rotatable magnetron system can be considered optimal in terms of cost, deposition rate, and quality of the deposited layers. Liquid-phase magnetron sputtering is recommended for low-cost high-speed deposition where there are no strict requirements for appearance, or in case of operation of small-sized equipment.</p></sec></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>магнетрон</kwd><kwd>жидкофазный магнетрон</kwd><kwd>планарный магнетрон</kwd><kwd>цилиндрический магнетрон</kwd><kwd>осаждение металлических пленок</kwd><kwd>эффективность осаждения</kwd><kwd>производительные методы</kwd><kwd>скорость осаждения</kwd><kwd>выбор метода осаждения</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>magnetron</kwd><kwd>liquid phase magnetron</kwd><kwd>planar magnetron</kwd><kwd>rotatable magnetron</kwd><kwd>metal film deposition</kwd><kwd>deposition efficiency</kwd><kwd>productive methods</kwd><kwd>deposition rate</kwd><kwd>choice of deposition method</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Юдинцев В. Развитие мировой микроэлектроники. Новое в стратегии. Часть II. Электроника: Наука. Технология. Бизнес. 2008;4:108-113. URL: https://www.electronics.ru/journal/article/413</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Yudintsev V. Global microelectronics development. New strategies. Part II. Elektronika: Nauka. Tekhnologiya. Biznes = Electronics: Science. Technology. Business. 2008;4:108-113 (in Russ.). Available from URL: https://www.electronics.ru/journal/article/413</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Громов Г.Г. Объемные и тонкопленочные термоэлектрические модули. Компоненты и технологии. 2014;9(158):87-92. URL: https://kit-e.ru/wp-content/uploads/15887.pdf</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gromov G.G. Volumetric and thin-film thermoelectric modules. Komponenty i tekhnologii = Components and Technologies. 2014;9(158):87-92 (in Russ.). Available from URL: https://kit-e.ru/wp-content/uploads/15887.pdf</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Parashchuk T., Sidorenko N., Ivantsov L., Sorokin A., Maksymuk M., Dzundza B., Dashevsky Z. Development of a solid-state multi-stage thermoelectric cooler. J. Power Sources. 2021;496:229821. https://doi.org/10.1016/j.jpowsour.2021.229821</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Parashchuk T., Sidorenko N., Ivantsov L., Sorokin A., Maksymuk M., Dzundza B., Dashevsky Z. Development of a solid-state multi-stage thermoelectric cooler. J. Power Sources. 2021;496:229821. https://doi.org/10.1016/j.jpowsour.2021.229821</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Lavrentev M.G., Drabkin I.A., Ershova L.B., Volkov M.P. Improved extruded thermoelectric materials. J. Electron. Mater. 2020;49:2937-2942. https://doi.org/10.1007/s11664-020-07988-0</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Lavrentev M.G., Drabkin I.A., Ershova L.B., Volkov M.P. Improved extruded thermoelectric materials. J. Electron. Mater. 2020;49:2937-2942. https://doi.org/10.1007/s11664-020-07988-0</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Dashevsky Z., Skipidarov S. Investigating the performance of bismuth-antimony telluride. In: Skipidarov S., Nikitin M. (Eds.). Novel Thermoelectric Materials and Device Design Concepts. 1st ed. Springer, Cham; 2019. Р. 3-21. https://doi.org/10.1007/978-3-030-12057-3_1</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Dashevsky Z., Skipidarov S. Investigating the performance of bismuth-antimony telluride. In: Skipidarov S., Nikitin M. (Eds.). Novel Thermoelectric Materials and Device Design Concepts. 1st ed. Springer, Cham; 2019. Р. 3-21. https://doi.org/10.1007/978-3-030-12057-3_1</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Moiseev K.M., Nazarenko M.V. Use of magnetron sputtering with liquid target in manufacturing of electronic components for spacecraft. AIP Conference Proceedings. 2019;2171(1):170010. https://doi.org/10.1063/1.5133321</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Moiseev K.M., Nazarenko M.V. Use of magnetron sputtering with liquid target in manufacturing of electronic components for spacecraft. AIP Conference Proceedings. 2019;2171(1):170010. https://doi.org/10.1063/1.5133321</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Макарова М.В., Моисеев К.М. Проблемы формирования толстых слоев олова методом ионного распыления в магнетронных системах в парах мишени. Инженерный журнал: наука и инновации. 2018;1(73). https://doi.org/10.18698/2308-6033-2018-1-1717</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Makarova M.V., Moiseev K.M. The problems of thick tin layers formation by ion sputtering in magnetron systems in target vapors. Inzhenernyi zhurnal: nauka i innovatsii = Engineering Journal: Science and Innovation. 2018;1(73) (in Russ). http://doi.org/10.18698/2308-6033-2018-1-1717</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Блейхер Г.А., Кривобоков В.П., Юрьева А.В. Анализ возможностей магнетронных распылительных систем для высокоскоростного осаждения функциональных покрытий. Современные технологии, экономика и образование: сборник материалов II Всероссийской научно-методической конференции. Томск: Изд-во ТПУ; 2020. С. 51-52.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Bleikher G.A., Krivobokov V.P., Yur'eva A.V. Analysis of the capabilities of magnetron sputtering systems for high-rate deposition of functional coatings. In: Sovremennye tekhnologii, ekonomika i obrazovanie: sbornik materialov II Vserossiiskoi nauchno-metodicheskoi konferentsii (Modern Technologies. Economics and Education: Collection of materials of the Second All-Russian Scientific and Methodological Conference). Tomsk: TPU; 2020. P. 51-52 (in Russ).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">KouptsovA.D., Vasiliev D.D., Sidorova S.V., Moiseev K.M. Design of a liquid-phase magnetron sputtering small-sized source for the vacuum coating system MVTU-11-1MS. J. Phys.: Conf. Ser. 2021;1799(1):012016. https://doi.org/10.1088/1742-6596/1799/1/012016</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kouptsov A.D., Vasiliev D.D., Sidorova S.V., Moiseev K.M. Design of a liquid-phase magnetron sputtering small-sized source for the vacuum coating system MVTU-11-1MS. J. Phys.: Conf. Ser. 2021;1799(1):012016. https://doi.org/10.1088/1742-6596/1799/1/012016</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Shandrikov M.V., et al. Deposition of Cu-films by a planar magnetron sputtering system at ultra-low operating pressure. Surface and Coatings Technology. 2020;389:125600. https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2020.125600</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Shandrikov M.V., et al. Deposition of Cu-films by a planar magnetron sputtering system at ultra-low operating pressure. Surface and Coatings Technology. 2020;389:125600. https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2020.125600</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Agrawal S. Development of rotatable magnetron. In: 33rd National Symposium on Plasma Science &amp; Technology (PLASMA 2018): Abstract Book. 2018. P. 172-173. URL: http://www.pssi.in/documents/Abstract%20Book@Plasma%202018.pdf</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Agrawal S. Development of rotatable magnetron. In: 33rd National Symposium on Plasma Science &amp; Technology (PLASMA 2018): Abstract Book. 2018. P. 172-173. Available from URL: http://www.pssi.in/documents/Abstract%20Book@Plasma%202018.pdf</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Gudmundsson J.T., Lundin D. Introduction to magnetron sputtering. In: High Power Impulse Magnetron Sputtering. Elsevier; 2020. P. 1-48. https://doi.org/10.1016/B978-0-12-812454-3.00006-1</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gudmundsson J.T., Lundin D. Introduction to magnetron sputtering. In: High Power Impulse Magnetron Sputtering. Elsevier; 2020. P. 1-48. https://doi.org/10.1016/B978-0-12-812454-3.00006-1</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Беляков С. Сборка микросхем в России: реальность и перспективы. Компоненты и технологии. 2014;5:185-187. URL: https://kit-e.ru/wp-content/uploads/154185.pdf</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Belyakov S. Microchip assembly in Russia: reality and prospects. Komponenty i tekhnologii = Components and Technologies. 2014;(5):185-187 (in Russ). Available from URL: https://kit-e.ru/wp-content/uploads/154185.pdf</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Соботка С., Херрманн Р. Интеллектуальный транспорт XXI века. Силовая электроника. 2010;1:12-15. URL: https://power-e.ru/wp-content/uploads/2010_1_12.pdf</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sobotka S., Herrmann R. Intelligent transport of the 21st century. Silovaya elektronika = Power Electronics. 2010;1:12-15 (in Russ). Available from URL: https://power-e.ru/wp-content/uploads/2010_1_12.pdf</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Макарова М.В., Моисеев К.М. Свойства медных пленок, полученных методом жидкофазного магнетронного распыления. 12-я Международная научно-техническая конференция «Вакуумная техника, материалы и технологии»: Сборник публикаций. 2017. 5 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Makarova M.V., Moiseev K.M. Properties of copper films obtained by liquid-phase magnetron sputtering. In: 12-ya Mezhdunarodnaya nauchno-tekhnicheskaya konferentsiya “Vakuumnaya tekhnika, materialy i tekhnologii:” Sbornik publikatsii (12st International Scientific and Technical Conference “Vacuum technology, materials and technologies:” Collection of publications). 2017. 5 p. (in Russ).</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
